РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 в Сумах
- Описание
Компания ПП "Сумы-Прибор" предлагает товар РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 в Сумах. Для того, чтобы узнать цены и купить РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000,
воспользуйтесь формой обратной связи, закажите обратный звонок, либо свяжитесь с менеджерами компании по телефону +38 (0542) 792729.
КОМПЛЕКТНОСТЬ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ.
1 Электронно-оптическая система.
Электронная пушка - вольфрамовый катод V-образного типа, возможность ручной и электромагнитной юстировки.
Трехлинзовая оптическая система - двухступенчатый конденсор, 45-градусная коническая объективная мини-линза, уменьшающая аберрации.
Устройство для установки и смены апертурной диафрагмы, два комплекта апертурных диафрагм для микроанализа (0.2 и 0.14, 0.12 и0.08 мм).
Раздельная откачка колонны и камеры объектов на высокий вакуум.
Автоматическая установка напряжения смещения на цилиндре Венельта при изменения ускоряющего напряжения.
Разрешающая способность в режиме изображения во вторичных электронах 5 нм.
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения от 0.2 до 5 кВ с шагом 50 В, от 5 до 40 кВ с шагом 1 кВ.
Диапазон регулировки увеличения от 5 до 300 000 крат.
2 Камера и механизм перемещения объектов.
Большая камера объектов 296х360х273 мм3. Порт для установки спектрометра ЭДС и два порта для установки спектрометра ВДС.
Максимальный диаметр образца 100 мм. Диаметр шлюзуемого объекта70 мми высота40 мм.
Три моторизированных осей перемещения(X, Y, Z).
Перемещение по оси Х -100 мм, Y -150 мм, Z - 60 мм,
Вращение 360°,
Наклон от минус 5° до 90°.
Универсальный держатель объектов, комплект специальных объектодержателей для различных по форме образцов. Карусельный держатель объектов для шести образцов диаметром10 ммкаждый.
Управление перемещением объектов с помощью jojstick и клавиатуры.
3 Детекторы.
Детектор вторичных электронов (Э-Т), полупроводниковый парный детектор отраженных электронов, спектрометры ВДС и ЭДС.
Режимы получения изображения: ВЭ, ОЭ, ТОРО, СОМРО, X-RAY.
4 Система получения, накопления и обработки изображения.
Программное управление режимами работы прибора, получением и накоплением изображения. Специализированные кнопки и ручки для установки увеличения, контраста, яркости, фокуса, стигматора.
Динамическое стигмирование, компенсация изменения увеличения при изменении ускоряющего напряжения и рабочего расстояния, компенсация поворота изображения при изменении положения образца.
Режим "малого поля" на экране монитора.
Электронный поворот растра.
Перемещение растра 30 мкм.
Осциллографический режим.
Обработка изображения: гамма-коррекция, деление экрана, электронный маркер, индикация линейных размеров объекта.
Отображение на экране параметров работы: ускоряющего напряжения, увеличения, рабочего расстояния, масштабной метки, токов линз, тока зонда и др.
Управляющий компьютер:
Pentium Dual-Core E2200(2.2 Ghz).
DDR II 2048MB PC2-6400 (800MHz).
SATA 320GB 7200rpm.
DVD+-RW.
Формат изображения в памяти компьютера 2048х2048,
формат изображения на экране 1280х1024.
5 Система рентгеновского микроанализа.
Два спектрометра волновой дисперсии, спектрометр энергетической дисперсии и устройство управления и измерения.
Интегрированное управление системой микроанализа. Устройство управления и измерения обеспечивает управление двумя спектрометрами волновой дисперсии и одним спектрометром энергетической дисперсии, сбор, первичную обработку рентгеновской информации и передачу ее посредством интерфейса в устройство вычислительное.
Рабочее расстояние для микроанализа25 мм.
Программное обеспечение системы микроанализа:
- программа управления спектрометрами,
- программа выполнения качественного микроанализа спектрометрами WD и спектрометром ED с KLM-маркером и идентификацией пиков,
- программа выполнения количественного микроанализа (ZAF-коррекция) спектрометрами WD и спектрометром ED,
- программы получения распределения элементов по линии и по площади (с разделением наложенных пиков, до 8 пиков).
Универсальный набор эталонов (45 шт.) для проведения количественного микроанализа и набор тестовых образцов для калибровки шкалы энергий спектрометров ED и WD, тестирования режима количественного микроанализа.
Энерго-дисперсионный спектрометр.
Угол установки детектора ЭДС по отношению к образцу 40°.
Si-Li детектор толщиной 3,5 мми активной площадью 12,5 мм2.
Полимерное сверхультратонкое окно детектора.
Энергетическое разрешение детектора на линии Mn ka -139 эВ.
Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора (5) до урана (92).
Спектрометр волновой дисперсии.
Механизм спектрометра:
- радиус круга Роуланда200 мм,
- диапазон изменения угла Брегга от 25° до 92.5°,
- диапазон анализируемых элементов от 4Ве до 92U,
- фокусирующая оптика Johann,
- анализирующие кристаллы LiF, PET, RAP, PbSt, размером 20х30 мм2,
- многослойные зеркала для анализа легких элементов,
- спектральная линейность0.2 мм,
- шаг перемещения 5 мкм/шаг,
- автоматический выбор анализирующего кристалла,
- возможность раздельной откачки камеры и спектрометров,
- магнитная ловушка электронов,
- проточный пропорциональный газовый счетчик FPC с окном толщиной 6 мкм,
- проточный пропорциональный газовый счетчик FPC с сверхтонким окном.
Разрешение ВДС:
- на линии Си Кa (Dl/l) 5.5·10-3.
- приведенная интенсивность и контрастность аналитических линий не хуже, чем указано в таблице.
Посмотреть РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 на сайте поставщика
Контакты поставщика
Похожие предложения поставщика
-
Микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов. Основные функции микроскопа: наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне...
Стоимость по запросу