РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 в Сумах

Компания ПП "Сумы-Прибор" предлагает товар РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 в Сумах. Для того, чтобы узнать цены и купить РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000, воспользуйтесь формой обратной связи, закажите обратный звонок, либо свяжитесь с менеджерами компании по телефону +38 (0542) 792729.

КОМПЛЕКТНОСТЬ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ. 1 Электронно-оптическая система. Электронная пушка - вольфрамовый катод V-образного типа, возможность ручной и электромагнитной юстировки. Трехлинзовая оптическая система - двухступенчатый конденсор, 45-градусная коническая объективная мини-линза, уменьшающая аберрации. Устройство для установки и смены апертурной диафрагмы, два комплекта апертурных диафрагм для микроанализа (0.2 и 0.14, 0.12 и0.08 мм). Раздельная откачка колонны и камеры объектов на высокий вакуум. Автоматическая установка напряжения смещения на цилиндре Венельта при изменения ускоряющего напряжения. Разрешающая способность в режиме изображения во вторичных электронах 5 нм. Диапазон регулировки ускоряющего напряжения от 0.2 до 5 кВ с шагом 50 В, от 5 до 40 кВ с шагом 1 кВ. Диапазон регулировки увеличения от 5 до 300 000 крат. 2 Камера и механизм перемещения объектов. Большая камера объектов 296х360х273 мм3. Порт для установки спектрометра ЭДС и два порта для установки спектрометра ВДС. Максимальный диаметр образца 100 мм. Диаметр шлюзуемого объекта70 мми высота40 мм. Три моторизированных осей перемещения(X, Y, Z). Перемещение по оси Х -100 мм, Y -150 мм, Z - 60 мм, Вращение 360°, Наклон от минус 5° до 90°. Универсальный держатель объектов, комплект специальных объектодержателей для различных по форме образцов. Карусельный держатель объектов для шести образцов диаметром10 ммкаждый. Управление перемещением объектов с помощью jojstick и клавиатуры. 3 Детекторы. Детектор вторичных электронов (Э-Т), полупроводниковый парный детектор отраженных электронов, спектрометры ВДС и ЭДС. Режимы получения изображения: ВЭ, ОЭ, ТОРО, СОМРО, X-RAY. 4 Система получения, накопления и обработки изображения. Программное управление режимами работы прибора, получением и накоплением изображения. Специализированные кнопки и ручки для установки увеличения, контраста, яркости, фокуса, стигматора. Динамическое стигмирование, компенсация изменения увеличения при изменении ускоряющего напряжения и рабочего расстояния, компенсация поворота изображения при изменении положения образца. Режим "малого поля" на экране монитора. Электронный поворот растра. Перемещение растра 30 мкм. Осциллографический режим. Обработка изображения: гамма-коррекция, деление экрана, электронный маркер, индикация линейных размеров объекта. Отображение на экране параметров работы: ускоряющего напряжения, увеличения, рабочего расстояния, масштабной метки, токов линз, тока зонда и др. Управляющий компьютер: Pentium Dual-Core E2200(2.2 Ghz). DDR II 2048MB PC2-6400 (800MHz). SATA 320GB 7200rpm. DVD+-RW. Формат изображения в памяти компьютера 2048х2048, формат изображения на экране 1280х1024. 5 Система рентгеновского микроанализа. Два спектрометра волновой дисперсии, спектрометр энергетической дисперсии и устройство управления и измерения. Интегрированное управление системой микроанализа. Устройство управления и измерения обеспечивает управление двумя спектрометрами волновой дисперсии и одним спектрометром энергетической дисперсии, сбор, первичную обработку рентгеновской информации и передачу ее посредством интерфейса в устройство вычислительное. Рабочее расстояние для микроанализа25 мм. Программное обеспечение системы микроанализа: - программа управления спектрометрами, - программа выполнения качественного микроанализа спектрометрами WD и спектрометром ED с KLM-маркером и идентификацией пиков, - программа выполнения количественного микроанализа (ZAF-коррекция) спектрометрами WD и спектрометром ED, - программы получения распределения элементов по линии и по площади (с разделением наложенных пиков, до 8 пиков). Универсальный набор эталонов (45 шт.) для проведения количественного микроанализа и набор тестовых образцов для калибровки шкалы энергий спектрометров ED и WD, тестирования режима количественного микроанализа. Энерго-дисперсионный спектрометр. Угол установки детектора ЭДС по отношению к образцу 40°. Si-Li детектор толщиной 3,5 мми активной площадью 12,5 мм2. Полимерное сверхультратонкое окно детектора. Энергетическое разрешение детектора на линии Mn ka -139 эВ. Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора (5) до урана (92). Спектрометр волновой дисперсии. Механизм спектрометра: - радиус круга Роуланда200 мм, - диапазон изменения угла Брегга от 25° до 92.5°, - диапазон анализируемых элементов от 4Ве до 92U, - фокусирующая оптика Johann, - анализирующие кристаллы LiF, PET, RAP, PbSt, размером 20х30 мм2, - многослойные зеркала для анализа легких элементов, - спектральная линейность0.2 мм, - шаг перемещения 5 мкм/шаг, - автоматический выбор анализирующего кристалла, - возможность раздельной откачки камеры и спектрометров, - магнитная ловушка электронов, - проточный пропорциональный газовый счетчик FPC с окном толщиной 6 мкм, - проточный пропорциональный газовый счетчик FPC с сверхтонким окном. Разрешение ВДС: - на линии Си Кa (Dl/l) 5.5·10-3. - приведенная интенсивность и контрастность аналитических линий не хуже, чем указано в таблице.

Посмотреть РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП РЭММА-2000 на сайте поставщика